1．局部放電：局部放電是指導(dǎo)體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電，這種放電可以在導(dǎo)體附近發(fā)生，也可以不在導(dǎo)體附件發(fā)生。
2．視在電荷量q：在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷包量。
3．視在放電量校準(zhǔn)器：視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器與校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，是一個校準(zhǔn)電荷產(chǎn)生裝置。
校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器產(chǎn)生規(guī)定波形的脈沖電壓，通過校準(zhǔn)電容對被試品注入電荷，模擬被試品局部放電時的視在放電電荷。
校準(zhǔn)器的主要技術(shù)參數(shù)包括校準(zhǔn)脈沖波形上升時間、衰減時間、校準(zhǔn)脈沖峰值及校準(zhǔn)電容值。
電壓波形上升時間為從0.1Uo到0.9Uo時間，衰減時間性定義為從峰值下降到0.1Uo的時間。
每個通道的輸入信號立的經(jīng)過前級低通濾除部分低頻信號，再經(jīng)過衰減或放大處理，然后經(jīng)過細調(diào)增益控制，經(jīng)過更精密一級的高低通濾波，進一步篩選出放電信號，經(jīng)過高速寬頻帶12位AD轉(zhuǎn)換器進行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過FPGA存儲在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網(wǎng)）上傳給PC機或工控主機系統(tǒng)進行顯示。
試驗電壓信號經(jīng)過電壓互感器隔離變換成小信號，小信號分兩路：一路經(jīng)過調(diào)理得到試驗電壓的外零標(biāo)信號，另一路經(jīng)過有效值轉(zhuǎn)換和A/D轉(zhuǎn)換得到試驗電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機或工控主機系統(tǒng)進行顯示。

技術(shù)參數(shù)
4.1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF
4.2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。
4.3．橢圓掃描時基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)度。
(3) 工作方式：標(biāo)準(zhǔn)－擴展－直線。
(4) 時基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4.4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
4.5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40kHz任選。
(2) 3dB端頻率fH：80、300kHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差±5%。
(4) 細調(diào)范圍：＞。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對稱性：＜5%。
4.6．時間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個時間窗可分別或同時控制。
4.7、脈沖峰值表
(1) 線性指示：0~100誤差不大于5%。
對數(shù)指示：1~100誤差不大于5%。
pC表直接讀數(shù)：0~100誤差不大于5%。
4.8、具有識別放電脈沖相位的零標(biāo)志系統(tǒng)。
4.9、工作電源  220V±10%   工頻
4.10、體積：440×430×180mm
4.11、重量：約15Kg

通用試驗方法
（一）試驗?zāi)康模海?）證實試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規(guī)定值時高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規(guī)定電壓下的放電強度。
（二）試驗條件：（1）交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機械溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
（3）由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
（4）經(jīng)過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序：1．將試驗區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，金屬體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意地線是否已接地。
2．根據(jù)不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3．對所選擇的測試回路用視在放電量標(biāo)準(zhǔn)器對整個測試系統(tǒng)進行刻度系數(shù)校正，校正時對所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把H調(diào)到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動，同時應(yīng)將視在放電器校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準(zhǔn)品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項：1．在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。切切!
2．對于連接線應(yīng)避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗完畢后，應(yīng)對整個測試系統(tǒng)再進行一次復(fù)查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。

主要特點
該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動態(tài)范圍大、測試的試品范圍廣、操作簡便等優(yōu)點。并采用的抗干擾組件和特的門顯示電路，抗干擾能力強，并具有四種橢圓掃描，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗，新產(chǎn)品研制試驗，電機、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測試?？晒┲圃鞆S、科研部門、電力部門現(xiàn)場使用。